X熒光測厚儀的原理

物質(zhì)經(jīng)X射線(xiàn)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態(tài)。從不穩定狀態(tài)要回到穩定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測量?jì)x的原理就是測量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。由X射線(xiàn)探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由專(zhuān)用測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀(guān)的實(shí)際厚度信號。