原子吸收的背景校正之塞曼效應校正背景

該法是1969 年由M . Prugger 和R . Torge 提出來(lái)的。塞曼效應校正背景是基于光的偏振特性。目前在商品儀器中應用的吸收線(xiàn)調制法，調制方式有恒定磁場(chǎng)與可變磁場(chǎng)調制方式兩種。
　　恒定磁場(chǎng)調制方式是在原子化器上垂直于光束方向施加一恒定磁場(chǎng)，在磁場(chǎng)的作用下，分析線(xiàn)分裂為π與σ_± 組分，前者與分析線(xiàn)的波長(cháng)相同，平行于磁場(chǎng)方向，后者偏離分析線(xiàn)的波長(cháng)，垂直于磁場(chǎng)方向。光源發(fā)射線(xiàn)經(jīng)過(guò)起偏器后變?yōu)槠�振光。隨著(zhù)起偏器的旋轉，平行與垂直于磁場(chǎng)方向的偏振光交替地通過(guò)原子化器，當平行于磁場(chǎng)方向的偏振光通過(guò)原子化器時(shí)，π與σ_±組分都產(chǎn)生吸收，測得原子吸收與背景吸收的總吸光度；當垂直于磁楊方向的偏振光通過(guò)原子化器時(shí)，由于偏振方向不同，不為π組分吸收，測得分析線(xiàn)波長(cháng)處的背景吸收的吸光度。兩次測得的吸光度值相減，便得到校正了背景吸收后的分析線(xiàn)的吸光度值。轉速計| 水份計| 水份儀| 分析儀| 溶氧計| 電導度計| PH計| 酸堿計| 糖度計| 鹽度計| 酸堿度計| 電導計|
　　可變磁場(chǎng)調制方式是在原子化器上垂直于光束方向施加一電磁鐵，它僅在原子化階段被激磁。偏振器是固定的，其作用是去掉平行于磁場(chǎng)方向的π組分，只讓垂直于磁場(chǎng)方向的σ_±組分通過(guò)原子化器。在零磁場(chǎng)時(shí)，測得原子吸收與背景吸收的總吸光度，激磁時(shí)，只測得背景吸收的吸光度，兩次測得的吸光度值相減，便得到校正了背景吸收后的分析線(xiàn)的吸光度值。

　　塞曼效應校正背景可以校正吸光度高達1.5～2.0的背景，能校正精細結構與光譜干擾引起的背景吸收。缺點(diǎn)是，由于π組分吸收曲線(xiàn)的彎曲程度大于σ_±組分吸收曲線(xiàn)的彎曲程度，故在高濃度測定時(shí)，工作曲線(xiàn)出現返轉，產(chǎn)生雙值曲線(xiàn)。光路中存在偏振器，光能量有損失，影響測定靈敏度。為了克服這一缺點(diǎn)，Perkin-Elmer 公司突破傳統的橫向塞曼效應加偏振器校正背景的設計，開(kāi)發(fā)了采用縱向交流塞曼效應校正背景與橫向加熱的新型原子吸收分光光度計，縱向磁場(chǎng)方向與光速平行，不存在π組分，無(wú)需偏振器，增大了光通量，當有磁場(chǎng)時(shí)，只測得背景吸收�？v向與橫向塞曼效應校正背景的原理示意圖，如下圖所示。