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單晶X衍射分析方法概述

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單晶X衍射分析方法概述

單晶X射線(xiàn)衍射分析法主要用于晶體結構測定。晶體結構測定的最后結果是獲取晶胞的空間群、晶胞常數和一套晶胞中每個(gè)原子位置的參數,并用結構模型圖顯示。從結構分析結果看,可以很容易得到鍵長(cháng)、鍵角、配位數等晶體化學(xué)數據。利用單晶衍射分析獲得的高分辨電子密度分布圖還可以進(jìn)一步研究結構中價(jià)電子的分布、原子或離子的大小、鍵型等等。測厚儀| 測速儀| 轉速表| 壓力表| 壓力計| 真空表| 硬度計| 探傷儀| 電子稱(chēng)| 熱像儀

  X射線(xiàn)的特點(diǎn):是其波長(cháng)正好與物質(zhì)的微觀(guān)結構中的原子、離子鍵的距離相當,所以它能很有效的被晶體衍射。晶態(tài)物質(zhì)的X射線(xiàn)衍射圖是分析物質(zhì)微觀(guān)結構的最有效的方法。

 

發(fā)布人:2010/12/20 9:55:001106 發(fā)布時(shí)間:2010/12/20 9:55:00 此新聞已被瀏覽:1106次