單晶X射線(xiàn)分析的新發(fā)展
X射線(xiàn)分析由于設備和技術(shù)的普及已逐步變成金屬研究和材料測試的常規方法。早期多用照相法，這種方法費時(shí)較長(cháng)，強度測量的精確度低。50年代初問(wèn)世的計數器衍射儀法具有快速、強度測量準確，并可配備計算機控制等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)得到廣泛的應用。但使用單色器的照相法在微量樣品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。頻閃儀| 測高儀| 測距儀| 金屬探測器| 試驗機| 扭力計| 流速儀| 粗糙度儀| 流量計| 平衡儀| 從70年代以來(lái)，隨著(zhù)高強度X射線(xiàn)源（包括超高強度的旋轉陽(yáng)極X射線(xiàn)發(fā)生器、電子同步加速輻射,高壓脈沖X射線(xiàn)源）和高靈敏度探測器的出現以及電子計算機分析的應用，使金屬 X射線(xiàn)學(xué)獲得新的推動(dòng)力。這些新技術(shù)的結合，不僅大大加快分析速度，提高精度，而且可以進(jìn)行瞬時(shí)的動(dòng)態(tài)觀(guān)察以及對更為微弱或精細效應的研究。