紫外可見(jiàn)分光光度計中的暗電流產(chǎn)生影響和校正的方式

一、什么叫暗電流 
    　　在分光光度計中，光電檢測器(光電倍增管或硅光二極管等)在沒(méi)有受到任何光照的情況下所輸出的電流信號稱(chēng)之為暗電流。 
二、暗電流的產(chǎn)生
    　　暗電流是光電檢測器的一種特殊產(chǎn)物，無(wú)論是光電管(電子流)還是硅光二極管(價(jià)電子移動(dòng))只要處于通電狀態(tài)均會(huì )產(chǎn)生暗電流;從嚴格意義上講，由于分光光度計的光信號檢測系統(也成為光電轉換器)不僅有光電檢測器同時(shí)還包括放大電路，因此放大系統對暗電流的大小、漂移及噪聲的影響也不可小視。
三、暗電流對分析結果的影響
    　　對于分光光度計的原理無(wú)需再贅述，假如被測樣品的透過(guò)(或反射)光信號到達光電檢測器后與檢測器本身的暗電流信號疊加在一起被放大處理，其測試結果的可信度和真實(shí)性就會(huì )大大打折扣;實(shí)踐證實(shí)，尤其在雙光束雙檢測器類(lèi)型的儀器上，假如不進(jìn)行暗電流的校正，有時(shí)結果值與真實(shí)值相差甚遠。 發(fā)生器| 多用表| 驗電筆| 示波表| 電流表| 鉤表| 測試器| 電力計| 電力測量?jì)x| 光度計| 電壓計| 電流計|     
四、暗電流校正與樣品背景扣除的熟悉誤區
    　　在分光光度計的應用上，人們早已熟悉到樣品背景對分析結果的影響，為了得到真實(shí)的光譜(也稱(chēng)之為校正光譜)雙光束分光光度計儀器應運而生。使用者在測定前在兩個(gè)通道上均放進(jìn)空缺液或參比液，在單波長(cháng)方式下僅按調零鍵即可，假如是做波長(cháng)掃描則要做基線(xiàn)記憶或稱(chēng)為基線(xiàn)校正，其目的就是做背景扣除。但有些儀器使用者對暗電流校正往往忽略或不了解甚至誤將背景校正看做為就是暗電流校正。    
五、暗電流校正的方式
    　　暗電流校正方式依據儀器的設計不同一般有兩種，下面以雙光束儀器為例加以說(shuō)明
    　　(1)雙光束雙檢測器儀器
    　　此類(lèi)儀器大多屬于中檔型，為了降低本錢(qián)兩只光電檢測器一般選用半導體器件如：光敏二極管或硅光二極管等，此種檢測器的優(yōu)點(diǎn)是價(jià)格低廉、漂移小及省卻了負高壓電路、相位識別電路等;缺點(diǎn)是自身沒(méi)有放大功能，動(dòng)態(tài)響應線(xiàn)性差，尤其在紫外區相對靈敏度低些。由于工藝制造的原因，事實(shí)上兩只參數性能一摸一樣的檢測器是不存在的，加上放大電路的作用，兩通道的樣品信號和暗電流值會(huì )相差更大;因暗電流校正原因而致使測試結果不正確的故障案例中，此類(lèi)型儀器站盡大多數，故此類(lèi)型儀器的暗電流校正更為重要。
    　　此類(lèi)儀器的暗電流校正方法是：在丈量前樣品室池架內不放置任何物品，按照儀器說(shuō)明書(shū)要求或顯示屏幕提示將儀器附帶的玄色專(zhuān)用擋塊(與比色池大小一致)先后依次放進(jìn)到需要校正通道的池架中，蓋嚴樣品室上蓋后點(diǎn)擊相應的按鍵即可;還有的儀器沒(méi)有單獨擋塊附件，在儀器設計中已將擋塊預先安裝在濾光器或光路中，校正時(shí)只要點(diǎn)擊相應的操縱鍵即可。這種校正方式稱(chēng)為先期校正方式。
    　　(2)雙光束單檢測器儀器
    　　此類(lèi)儀器屬于高檔型，檢測器一般選用光電倍增管;此種檢測器由于使用一只檢測器故不存在性能差異題目，加之本身有增益功能，無(wú)論從靈敏度還是動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍均優(yōu)于半導體檢測器，但它的缺點(diǎn)是漂移較大，需要時(shí)時(shí)校正;此類(lèi)儀器的暗電流擋塊一般設置在光束分裂器的扇頁(yè)上，光束分裂器也稱(chēng)為斬波器，由一個(gè)電機帶動(dòng)一片圓頁(yè)，而圓頁(yè)被均勻分為四等份扇頁(yè)，其中兩個(gè)對角扇頁(yè)貼有反光鏡，提供的光束供樣品通道用;一片透光扇頁(yè)提供的光束供參比通道用，另一片扇頁(yè)是玄色的就是所謂的暗電流校正擋塊。當分裂器電機旋轉后，斬波器圓頁(yè)每旋轉一周所提供的光信號順序為：樣品→參比→樣品→暗電流校正，由相位識別電路篩選處理;從中不丟臉出，雙光束單檢測器儀器的暗電流校正非常簡(jiǎn)單無(wú)需人工校正，這種校正方式稱(chēng)為在線(xiàn)校正方式。