透射電子顯微鏡可提供的信息
①可了解試樣的大小及形狀。依次可了解其結晶的不完整性、粒度分布、表面結構、聚集態(tài)等。 
　�、诳傻玫诫娮邮�衍射圖像。如非晶樣品，可了解暈圈；單晶樣品可了解二維點(diǎn)陣的單晶圖像；多晶可了解德拜-謝樂(lè )環(huán)。特別是對多晶時(shí)決定試樣德單位晶格的大小，由各面距的測定可以進(jìn)行試樣的鑒定。 多用表| 驗電筆| 示波表| 電流表| 鉤表| 測試器| 電力計| 電力測量?jì)x| 光度計| 電壓計| 電流計|
　�、劭闪私饩�體的晶格缺陷及位錯的存在以及其種類(lèi)、性質(zhì)、方向等。根據超高分辨率電子顯微鏡圖像，可了解晶體內的分子排列、原子排列及其不規則性、分子內的原子排列等。
　�、芸闪私饩�體的取向，固體反應在反應前后的取向變化等。
　�、菘蛇M(jìn)行極微量樣品的元素分析。通過(guò)試樣發(fā)射的X射線(xiàn)能量分析。對試樣可進(jìn)行組成元素的定性、定量分析以及試樣的形態(tài)結構（energy dispersive spectroscopy, EDS）。通過(guò)試樣內的電子能部分被試樣吸收，分析這種能量便可進(jìn)行同樣的分析(electron energy loss spectroscopy, EELS)。
　　與只能反映試樣平均結構的X射線(xiàn)衍射分析法相比較，電子束衍射圖像，電子顯微鏡圖像可得到非常微小范圍的信息，如可了解在規則結構中的不規則部分，或在不規則結構中的規則結構。而且利用EDS、EELS進(jìn)行元素分析均可進(jìn)行直徑為1μm以下到1nm的微小的試樣范圍的超微分析。而且這種分析法是可以用目測觀(guān)察和選擇，這是其他分析方法所沒(méi)有的優(yōu)點(diǎn)。