盲區對光時(shí)域反射儀測量精度的影響

我們將諸如活動(dòng)連接器、機械接頭等特征點(diǎn)產(chǎn)生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來(lái)的一系列“盲點(diǎn)”稱(chēng)為盲區。光纖中的盲區分為事件盲區和衰減盲區兩種：由于介入活動(dòng)連接器而引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到接收器飽和峰值之間的長(cháng)度距離，被稱(chēng)為事件盲區；光纖中由于介入活動(dòng)連接器引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到可識別其他事件點(diǎn)之間的距離，被稱(chēng)為衰減盲區。對于OTDR來(lái)說(shuō)，盲區越小越好。 盲區會(huì )隨著(zhù)脈沖寬的寬度的增加而增大，增加脈沖寬度雖然增加了測量長(cháng)度，但也增大了測量盲區，所以，我們在測試光纖時(shí)，對OTDR附件的光纖和相鄰事件點(diǎn)的測量要使用窄脈沖，而對光纖遠端進(jìn)行測量時(shí)要使用寬脈沖。校正器| 轉換器| 傳送器| 變送器| 傳感器| 記錄儀| 有紙記錄儀| 無(wú)紙記錄儀|