新型成像技術(shù)顯示單個(gè)的硼原子

采用像差校正電子顯微技術(shù)的最新成果，美國能源部橡樹(shù)嶺國家實(shí)驗室的研究人員與他們的同事已經(jīng)得到了首批可以辨別硼原子、碳原子、氮原子及氧原子等單個(gè)輕原子的圖像。材料科學(xué)與技術(shù)部門(mén)的研究人員斯蒂芬·潘尼庫克說(shuō)：“該研究標志著(zhù)首次實(shí)現了對一種非周期材料中大部分原子進(jìn)行成像與化學(xué)識別�！�

新型成像技術(shù)使材料學(xué)研究人員可以通過(guò)對試驗材料的每種原子進(jìn)行逐一分析來(lái)研究其分子結構，并發(fā)現這些材料中的結構缺陷，其中有些缺陷是在試圖改變材料性能的過(guò)程中形成的。環(huán)形暗場(chǎng)分析實(shí)驗在一臺經(jīng)過(guò)優(yōu)化處理的100kV的Nion牌UltraSTEM型顯微鏡下進(jìn)行，優(yōu)化后的顯微鏡適用于60kV的較低電壓。像差校正技術(shù)的設想最早出現于幾十年前，但直到最近該技術(shù)才借助計算領(lǐng)域的進(jìn)展而得以實(shí)現。該技術(shù)的研究團隊除潘尼庫克與同事馬修·齊斯蒙之外，還有來(lái)自范德比爾特(Vanderbilt)大學(xué)、牛津大學(xué)及Nion公司（位于華盛頓州Kirkland市）的人員加盟，本研究中的顯微鏡就是由Nion公司設計并建造的�！蹲匀弧冯s志上發(fā)表了一篇介紹該團隊相關(guān)研究的文章。