熱像儀參數測試系統發(fā)展簡(jiǎn)介

熱成像儀從20世紀20年代末開(kāi)始發(fā)展，從第一代的光機掃描式發(fā)展到現在第二代的陣列式焦平面凝視成像。陣列式凝視成像的焦平面熱像儀在性能上大大優(yōu)于光機掃描式熱像儀。其探測器由單片集成電路組成，被測目標的整個(gè)視野都聚焦到上面，圖像更加清晰，使用更加方便，儀器也更小巧輕便。
　　熱成像儀成像的質(zhì)量參數是衡量一個(gè)熱成像儀好壞的標準，這些參數客觀(guān)地反映了熱成像儀對各種目標的分辨能力、探測能力、工作波段、工作溫度、精度、范圍等重要特性，正確而且準確地測出這些參數的重要性也就體現出來(lái)了。
　　對這兩種熱成像儀進(jìn)行參數測試的設備并沒(méi)有太多的改變，只是不斷地有新的技術(shù)和新的方法引入，已經(jīng)從原來(lái)的清一色主觀(guān)測量法發(fā)展到了今天越來(lái)越多的客觀(guān)測量法。