電子能譜儀的分類(lèi)和應用
隨著(zhù)激發(fā)源及研究的二次電子來(lái)源的不同,電子能譜儀可分為:
。1)X光電子能譜儀(XPS)。以X射線(xiàn)為激發(fā)源,獲得內、外層光電子能譜。對檢測輕、重元素均相當有效;
。2)紫外光電子能譜儀(UPS)。以紫外光線(xiàn)為激發(fā)源,由于紫外光能量低,射線(xiàn)寬度窄,因此對激發(fā)價(jià)電子層電子靈敏度強,分辨力高,能獲得直接反映分子特征的價(jià)電子層電子能譜;
。3)俄歇(Auger)電子能譜儀(AES)。用電子射線(xiàn)松為激發(fā)源,研究俄歇電子獲得的能譜,它與X熒光儀相比,對檢測原子序數小于33以下的輕元素有較高的靈敏度。在表面物化分析、分子結構鑒定、催化劑研究、新材料研究,以及物理學(xué)、理子化學(xué)基礎理論研究等領(lǐng)域中,應用日益廣泛。
應用:電子能譜目前主要應用于催化、金屬腐蝕、粘合、電極過(guò)程和半導體材料與器件等這樣一些極有應用價(jià)值的領(lǐng)域,探索固體表面的組成、形貌、結構、化學(xué)狀態(tài)、電子結構和表面鍵合等信息。隨著(zhù)時(shí)間的推移,電子能譜的應用范圍和程度將會(huì )越來(lái)越廣泛,越來(lái)越深入。
UPS主要用于提供: