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電子能譜儀的分類(lèi)和應用

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電子能譜儀的分類(lèi)和應用

隨著(zhù)激發(fā)源及研究的二次電子來(lái)源的不同，電子能譜儀可分為：
　�。�1）X光電子能譜儀（XPS）。以X射線(xiàn)為激發(fā)源，獲得內、外層光電子能譜。對檢測輕、重元素均相當有效；
　�。�2）紫外光電子能譜儀（UPS）。以紫外光線(xiàn)為激發(fā)源，由于紫外光能量低，射線(xiàn)寬度窄，因此對激發(fā)價(jià)電子層電子靈敏度強，分辨力高，能獲得直接反映分子特征的價(jià)電子層電子能譜；
　�。�3）俄歇(Auger)電子能譜儀（AES）。用電子射線(xiàn)松為激發(fā)源，研究俄歇電子獲得的能譜，它與X熒光儀相比，對檢測原子序數小于33以下的輕元素有較高的靈敏度。在表面物化分析、分子結構鑒定、催化劑研究、新材料研究，以及物理學(xué)、理子化學(xué)基礎理論研究等領(lǐng)域中，應用日益廣泛。

應用：電子能譜目前主要應用于催化、金屬腐蝕、粘合、電極過(guò)程和半導體材料與器件等這樣一些極有應用價(jià)值的領(lǐng)域，探索固體表面的組成、形貌、結構、化學(xué)狀態(tài)、電子結構和表面鍵合等信息。隨著(zhù)時(shí)間的推移，電子能譜的應用范圍和程度將會(huì )越來(lái)越廣泛，越來(lái)越深入。
　　UPS主要用于提供：

　　1、清潔表面或有化學(xué)吸附物的表面的電子結構；
　　2、參與表面化學(xué)鍵的金屬電子和分子軌道的組合等信息；
　　3、有關(guān)電子激發(fā)和電荷轉移的信息。
　　XPS 是用X射線(xiàn)光子激發(fā)原子的內層電子發(fā)生電離，產(chǎn)生光電子，這些內層能級的結合能對特定的元素具有特定的值，因此通過(guò)測定電子的結合能和譜峰強度，可鑒定除H和He（因為它們沒(méi)有內層能級）之外的全部元素以及元素的定量分析。
　　AES 也不能分析H、He，對樣品有一定的破壞作用，但其具有表面靈敏度高（檢測極限小于10-18g）、分析速度快等優(yōu)點(diǎn)，在表面科學(xué)領(lǐng)域主要進(jìn)行：
　　1、表面組成的定性和定量；
　　2、表面元素的二維分布圖和顯微像；
　　3、表面元素的三維分布分析;
　　4、表面元素的化學(xué)環(huán)境和鍵合等方面的研究。
發(fā)布人：2010/10/29 9:42:001007 發(fā)布時(shí)間：2010/10/29 9:42:00 此新聞已被瀏覽:1007次