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激光粒度儀的測量方法及原理

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激光粒度儀的測量方法及原理

1 篩分法:

  篩分法是一種最傳統的粒度測試方法,也是我廠(chǎng)最常用的方法。它是使顆粒通過(guò)不同尺寸的篩孔來(lái)測試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式,可以用單個(gè)篩子來(lái)控制單一粒徑顆粒的通過(guò)率,也可以用多個(gè)篩子疊加起來(lái)同時(shí)測量多個(gè)粒徑顆粒的通過(guò)率,并計算出百分數。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負壓篩、全自動(dòng)篩等多種方式。顆粒能否通過(guò)篩幾與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān),不同的行業(yè)有各自的篩分方法標準。

2 顯微鏡法:

  測量與實(shí)際顆粒投進(jìn)面積相同的球形顆粒的直徑即等效投影面積直徑。包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數碼像機)、圖形采集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過(guò)CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸到計算機中,由計算機對這些圖像進(jìn)行邊緣識別等處理,計算出每個(gè)顆粒的投影面積,根據等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑,再統計出所設定的粒徑區間的顆粒的數量,就可以得到粒度分布了。
  由于這種方法單次所測到的顆粒個(gè)數較少,對同一個(gè)樣品可以通過(guò)更換視場(chǎng)的方法進(jìn)行多次測量來(lái)提高測試結果的真實(shí)性。除了進(jìn)行粒度測試之外,它還常用來(lái)觀(guān)察和測試顆粒的形貌。

3 刮板:

  把樣品刮到一個(gè)平板的表面上,觀(guān)察粗糙度,以此來(lái)評價(jià)樣品的粒度是否合格。此法是涂料行業(yè)采用的一種方法。是一個(gè)定性的粒度測試方法,我以前玩過(guò)一次,別人給我看,我看不出有什么區別。

4 沉降法:

  依據顆粒的沉降速度作等效對比,所測的粒徑為等效沉速徑,即用與被測顆粒具有相同沉降速度的同質(zhì)球形顆粒的直徑來(lái)代表實(shí)際顆粒的大小。有簡(jiǎn)單的沉降瓶法和按此原理設計的粒度儀。例如一種納米顆粒粒度分析儀采用的是差示沉淀法進(jìn)行顆粒粒度的測量和分析。樣品被注入到高速旋轉的液體中,然后在離心力的作用下,樣品被快速沉淀并通過(guò)檢測頭被檢測并拾取。因為大小不同的顆粒到達檢測頭的時(shí)間不同,因此通過(guò)記錄顆粒到達檢測頭的時(shí)間,就可以知道顆粒的大小。

5 電阻法:

  電阻法又叫庫爾特法,是由美國一個(gè)叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測試方法。這種方法是根據顆粒在通過(guò)一個(gè)小微孔的瞬間,占據了小微孔中的部分空間而排開(kāi)了小微孔中的導電液體,使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當不同大小的粒徑顆粒連續通過(guò)小微孔時(shí),小微孔的兩端將連續產(chǎn)生不同大小的電阻信號,通過(guò)計算機對這些電阻信號進(jìn)行處理就可以得到粒度分布了。

6 激光衍射:

  利用顆粒對激光的散射特性作等效對比,所測出的等效粒徑為等效散射粒徑,即用與實(shí)際被測顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來(lái)代表這個(gè)實(shí)際顆粒的大小。當被測顆粒為球形時(shí),其等效粒徑就是它的實(shí)際直徑。一般認為激光法所測的直徑為等效體積徑。該方法測定速度快,不過(guò)從原理上講顆粒越小,衍射角越大,因此它可能更適合小顆粒,我們實(shí)驗室有一臺英國馬爾文的mastersizer2000激光粒徑儀。

7 透氣法:

  透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個(gè)金屬管里并壓實(shí),將這個(gè)金屬管安裝到一個(gè)氣路里形成一個(gè)閉環(huán)氣路。當氣路中的氣體流動(dòng)時(shí),氣體將從顆粒的縫隙中穿過(guò)。如果樣品較粗,顆粒之間的縫隙就大,氣體流邊所受的阻礙就;樣品較細,顆粒之間的縫隙就小,氣體流動(dòng)所受的阻礙就大。透氣法就是根據這樣一個(gè)原理來(lái)測試粒度的。這種方法只能得到一個(gè)平均粒度值,不能測量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業(yè)。

8 超聲波法:

  通過(guò)不同粒徑顆粒對超聲波產(chǎn)生不同的影響的原理來(lái)測量粒度分布的一種方法。它可以直接測試固液比達到70%的高濃度漿料。這種方法是一種新的技術(shù),目前國內外都有人進(jìn)行研究,據說(shuō)國外已經(jīng)有了儀器,國內目前還沒(méi)有。

9 相關(guān)法:

  用光子相關(guān)原理測量粒度的一種方法,主要用來(lái)測量納米材料的粒度分布。國外已有現成的儀器,國內目前還沒(méi)有。

發(fā)布人:2010/11/16 10:38:001507 發(fā)布時(shí)間:2010/11/16 10:38:00 此新聞已被瀏覽:1507次