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離子探針的展望

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離子探針的展望

離子探針作為一個(gè)具有分析微量元素的高靈敏度的微區分析方法正在迅速發(fā)展。但是,由于二次離子濺射機理較為復雜,定量分析仍存在許多問(wèn)題。今后發(fā)展和改進(jìn)的主要方向是:
  1、提高質(zhì)譜分辨率,以減少和排除二次離子質(zhì)譜干擾;
  2、實(shí)現多種質(zhì)譜粒子探測,以獲得樣品和多種粒子的信息和資料;
  3、定量分析和離子濺射機理 的研究;
  4、新型液態(tài)金屬離子源的應用;
  5、離子探針與多種儀器(如X射線(xiàn)光電子能譜、紫外光電子能譜、俄歇電子能譜)聯(lián)用等。

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發(fā)布人:2009/2/27 9:21:002785 發(fā)布時(shí)間:2009/2/27 9:21:00 此新聞已被瀏覽:2785次