SOC是什么，它測試中的新技術(shù)

SoC的定義多種多樣,由于其內涵豐富、應用范圍廣,很難給出準確定義。一般說(shuō)來(lái), SoC稱(chēng)為系統級芯片,也有稱(chēng)片上系統,意指它是一個(gè)產(chǎn)品,是一個(gè)有專(zhuān)用目標的集成電路,其中包含完整系統并有嵌入軟件的全部?jì)热�。同時(shí)它又是一種技術(shù),用以實(shí)現從確定系統功能開(kāi)始,到軟/硬件劃分,并完成設計的整個(gè)過(guò)程。從狹義角度講,它是信息系統核心的芯片集成,是將系統關(guān)鍵部件集成在一塊芯片上;從廣義角度講, SoC是一個(gè)微小型系統,如果說(shuō)中央處理器(CPU)是大腦,那么SoC就是包括大腦、心臟、眼睛和手的系統。國內外學(xué)術(shù)界一般傾向將SoC定義為將微處理器、模擬IP核、數字IP核和存儲器(或片外存儲控制接口)集成在單一芯片上,它通常是客戶(hù)定制的,或是面向特定用途的標準產(chǎn)品。

昵稱(chēng)為“老虎”的Catalyst T系列是一種單片系統（SOC）測試系統。該系統具有1024個(gè)數字引腳，數字數據率高達1.6Gb/s，具備各種高精度模擬測試能力。對于那些常用于數字存儲、傳輸和處理應用如磁盤(pán)驅動(dòng)器、網(wǎng)絡(luò )交換、芯片組和PC圖形應用的多引腳/高性能SOC，Catalyst T系列提供了對其進(jìn)行測試所需要的高速測試靈活性。
　　ATE定時(shí)系統結構將高密度亞微米CMOS和IBM的SiGe混合信號能力結合在一起，該方法保證了DUT周期定時(shí)編程，其中，測試波形基于DUT的需要，而不限制在測試系統的矢量指令速率上。
　　通過(guò)將1024個(gè)數字通道集成到一個(gè)測試頭上，Catalyst T系列提供了Internet交換機和PC應用中常用的高速、低電壓數據鏈路所需要的1.25Gb/s（差分1.6Gb/s）的數據率。其靈活的波形能力利用實(shí)時(shí)的定時(shí)、波形和周期交換支持兩種獨立的時(shí)間域。
　　每塊32通道的測試頭卡都包括每引腳信號源（包括PMU）、引腳電路、模式存儲器（高達128M×3位）和一個(gè)1.6Gb/s的定時(shí)系統。另外，每塊卡還具備帶有16M位故障捕獲和384M位源/捕獲/掃描存儲器的存儲器測試控制器。
　　T系列包括一種零時(shí)間FlexDSP結構，具備全差分模擬測試功能。以每秒150億次操作工作的DSP能夠實(shí)時(shí)執行采樣率轉換及濾波，具備15MHz的帶寬和-120dB的失真。系統的選件包括用于DSL器件測試的LFAC1.2MHz源和數字化儀；用于100/1000Base-T網(wǎng)絡(luò )測試應用的VHF 24002.4GS/s、10位任意波形發(fā)生器和VHF 1GHz數字化儀；以及用于超大吞吐量PLL生產(chǎn)測試的時(shí)間抖動(dòng)分析儀。

并行測試結構

　　在IMAGE軟件的支持下，Catalyst系列主要用于進(jìn)行多點(diǎn)測試。有別于在每個(gè)儀器中放置一個(gè)本地DSP處理器的測試方法，Catalyst通過(guò)先對并行數據進(jìn)行實(shí)時(shí)的捕獲和傳送，在第二個(gè)測試進(jìn)程開(kāi)始以后，再對先期數據集中進(jìn)行后臺處理，從而改進(jìn)提高了測試速度。T系列有一個(gè)輔助模式發(fā)生器，把整個(gè)系統分成兩個(gè)獨立的部分，具有自己的數字時(shí)鐘。每個(gè)32通道測試頭卡可以獨立地分配給兩個(gè)測試模式發(fā)生器中的任何一個(gè)。
　　模擬儀器也可以分配給兩個(gè)模式發(fā)生器并與其同步。對于異步和小數總線(xiàn)測試來(lái)說(shuō)，使用這種雙時(shí)鐘系統編程更加容易實(shí)現。因此兩個(gè)不相干的頻率可以準確設置，而不用通過(guò)多個(gè)、基于時(shí)間集的解決方案。輔助模式發(fā)生器還支持并行單元測試，因此SOC器件的獨立單元測試可同時(shí)進(jìn)行。對多點(diǎn)測試而言，輔助模式發(fā)生器允許器件運行于全異步模式。
Catalyst T系列軟件工具結合了制作前（pre-sili-con）仿真、測試程序發(fā)生器、器件特征描述等部分。 VX測試仿真軟件還提供了測試環(huán)境的閉環(huán)仿真。
　　測試儀的DUT周期定時(shí)系統簡(jiǎn)化了CAE界面，允許程序員使用固有的器件項目來(lái)代替測試儀法形描繪語(yǔ)言。自動(dòng)調試數字開(kāi)發(fā)軟件（最新版IM-AGE7.0）在維持不同調試工具緊密協(xié)調工作的同時(shí)，從不同角度監視可能發(fā)生的錯誤。各種詳細的DUT和測試信息如引腳、電平、矢量、定時(shí)等在不同的工具中自動(dòng)傳輸。Teradyne/IAgicVision的BIST控制工具控制內置的BIST電路，提供最終產(chǎn)品級的合格/失敗測試以及詳細的結構診斷信息。