涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
德國EPK(Elektrophysik)公司 涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn): MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能; 所有型號均可配所有探頭; 可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機; 可使用一片或二片標準箔校準。
型號 |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
MINITEST 存儲的數據量 |
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) |
1 |
1 |
10 |
99 |
每個(gè)應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動(dòng)統計計算,并可設寬容度極限值) |
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1 |
10 |
99 |
可用各自的日期和時(shí)間標識特性的組數 |
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1 |
500 |
500 |
數據總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
MINITEST統計計算功能 |
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar |
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√ |
√ |
√ |
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
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√ |
√ |
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar |
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√ |
√ |
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
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√ |
√ |
存儲顯示每一個(gè)應用行下的所有組內數據 |
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√ |
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 |
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√ |
√ |
顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間 |
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√ |
√ |
√ |
其他功能 |
設置極限值 |
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√ |
√ |
連續測量模式快速測量,通過(guò)模擬柱識別最大最小值 |
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√ |
√ |
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 |
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√ |
√ |
連續測量模式中顯示最小值 |
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√ |
√ |
可選探頭參數(探頭圖示) 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能 |
探頭 |
量程 |
低端 分辨率 |
誤差 |
最小曲率半徑 (凸/凹) |
最小測量 區域直徑 |
最小基 體厚度 |
探頭尺寸 |
磁 感 應 法
|
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
F2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm |
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm |
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm |
兩 用
|
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm |
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F0.5mm/N50μm |
φ21x89mm |
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm |
電 渦 流 法
|
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm |
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm |
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
N2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
50μm |
φ15x62mm |
N2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm |
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm |
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm |
CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
無(wú)限制 |
φ17x80mm |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 | |
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